Новое устройство для тепловых экспресс испытаний радиоэлементов
Компанией «Вип Электроника» разработано новое универсальное оборудование «TIROT» для экспресс-охлаждения радиоэлектронных элементов.
«TIROT» при нормальных условиях окружающей среды (25С) может охлаждать испытуемые элементы до температуры -40С и отводить мощность от тепло-выделяемого элемента 3Вт.
Преимущества «TIROT»:
TIROT отличается от климатических камер возможностью селективного охлаждения и нагрева радиоэлементов входящих в схему, что позволяет значительно ускорить поиск в схеме элементов, изменение параметров которых при изменение температуры приводит к ухудшению параметров всей схемы.
Использование климатических камер для испытания макета любого разрабатываемого прибора на этапе, когда необходимо выявить элементы влияющие на температурную нестабильность неудобно, так как температура всех элементов в камере понижается одновременно.
При этом TIROT является компактным устройством и за счет универсального щупа обеспечивает возможность доступа ко всем исследуемым элементам на этапе экспериментальных испытаний макета или опытного образца нового прибора.
«TIROT» при нормальных условиях окружающей среды (25С) может охлаждать испытуемые элементы до температуры -40С и отводить мощность от тепло-выделяемого элемента 3Вт.
Преимущества «TIROT»:
TIROT отличается от климатических камер возможностью селективного охлаждения и нагрева радиоэлементов входящих в схему, что позволяет значительно ускорить поиск в схеме элементов, изменение параметров которых при изменение температуры приводит к ухудшению параметров всей схемы.
Использование климатических камер для испытания макета любого разрабатываемого прибора на этапе, когда необходимо выявить элементы влияющие на температурную нестабильность неудобно, так как температура всех элементов в камере понижается одновременно.
При этом TIROT является компактным устройством и за счет универсального щупа обеспечивает возможность доступа ко всем исследуемым элементам на этапе экспериментальных испытаний макета или опытного образца нового прибора.